Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография

Name: Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография
Brand: Лань
SKU: 3284991
Availability: OutOfStock

(0 отзывов)

недоступно к заказу

Добавить в лист ожидания

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».

Артикул

3284991

Издательство

Лань

Тип обложки

твердый переплет

Автор

Дракин Александр Юрьевич Зотин Виталий Федорович Потапов Л.А.

Штрих код

9785811433124

Год

2018