Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для вузов
недоступно к заказу
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Артикул
4680812
Издательство
Серия
Тип обложки
твердый переплет
Автор
Суворов Э.В.
Штрих код
9785534150049
Год
2021
Страниц
309
Язык
Русский
Размеры
170x240x18 мм
Вес
494 гр.
Импортер
ООО «Абрис-Бел». 220112, РБ, г. Минск, ул. Cырокомли 7-167
С этим товаром покупают
Будьте первыми, кто оставит отзыв!