Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для вузов

Артикул
4680812
Серия
Издательство
Тип обложки
твердый переплет
Автор
Штрих код
9785534150049
Год
Страниц
309
Язык
Русский
Размеры
170x240x18 мм
Вес
494 гр.
Импортер
Частное предприятие «Аспект-Бел». 220112, РБ, г. Минск, ул. Cырокомли 7-167

не доступна к заказу

В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

Оставьте ваш отзыв

Если у вас вопрос, укажите e-mail для обратной связи.

Отзывы
С этим товаром покупают
Меню
Каталог товаров